X선 미세단층촬영시스템
다양한 샘플을 빠르게 스캔할 수 있도록 설계된 실제 3D X선 현미경 파워 팩입니다. 컴팩트한 기하학적 구조와 빠른 평면 패널 검출기 덕분에 결과 시간은 몇 분 정도로 단축될 수 있습니다. QC 및 생산 모니터링에 이상적입니다. 높은 수준의 자동화를 통해 우수한 사용 편의성을 제공합니다. 제어판에서 버튼을 누르기만 하면 빠른 스캔의 자동 시퀀스가 시작되고 재구성 및 볼륨 렌더링이 시작됩니다. 다음 샘플이 스캔이 되는 동안 모든 과정은 진행 됩니다.
[제품정보]
매우 빠르고 사용하기 쉬우면서도, 이미지 품질에 대한 어떤 타협도 허용하지 않습니다. 새롭게 출시된 Bruker SKYSCAN 1275는 연구 및 산업시장에서 훌륭한 조합을 제공합니다.
SKYSCAN 1275는 X선 광원 및 효율적인 평면 검출기에 최신기술을 적용하여, 매우 빠른 스캐닝이 가능하도록 특별히 설계되었습니다. X선 광원과 검출기 사이의 거리를 줄이고, 카메라 판독 값을 매우 빠르게 하면서도 화질을 떨어뜨리지 않기 때문에 스캔시간을 수 분 단위로 줄일 수 있습니다. 그래픽 카드로 가속화된 3차원 재구성 능력은 성능과 속도 면에서 추가적인 혜택을 제공합니다.
볼륨 렌더링에 의해 결과를 빠르게 시각화 하면, 샘플 내부의 미세구조를 가상으로 이미징이 가능하기 때문에 샘플 내외부의 가상절단 또는 가상현실 비행을 통해 샘플의 모든 내부특성을 확인할 수 있습니다. 품질관리 또는 생산공정 모니터링과 같은 연구 및 산업분야에서, 빠르면서도 고품질의 결과를 얻는 것이 매우 중요합니다. 또한 SKYSCAN 1275는 매우 높은 수준의 자동화 기능을 제공합니다. 시스템 전면의 버튼을 누르기만 해도 빠른 스캐닝을 위한 자동 시퀀스가 시작되고, 다음 샘플을 스캔하는 중에 이전에 스캔한 샘플의 3차원 재구성 및 볼륨 렌더링을 동시에 수행합니다.
[특징]
- 일련의 버튼 동작 만으로도 스캐닝, 재구성 및 볼륨 렌더링을 모두 수행
- 20-100kV의 X선 출력과 작은 스폿 사이즈, 그리고 다중 필터옵션을 통해 특정 어플리케이션에 대한 최적의 스캔조건 선택 가능
- 최대직경 96mm, 최대길이 100mm의 샘플을 스캐닝 할 수 있기 때문에 산업부품 및 어셈블리를 포함한 대형 샘플에도 사용 가능
- 왜곡 없는 3Mp의 능동형 평면검출기, 긴 수명과 재현성, 품질 및 정확성을 보장하기 위해 광섬유판을 사용
- 최단 스캔시간 80초
- 3차원 재구성은 기존의 CPU 기반 재구성과 비교하여 5~10배 빠른 속도로 모든 이미지형식 지원 가능
- 2D/3D 이미지 분석 및 대용량 스캔 결과의 표면/볼륨 렌더링, 모바일 데이터 내보내기 및 볼륨 렌더링을 통한 사실적 3차원 시각화 이미지 제작용 소프트웨어 패키지 기본 제공
- 미세위치조정 스테이지 및 인장/압축 스테이지, 그리고 냉각 및 가열시험 스테이지옵션 제공
- 스캔 후 결과에 대한 링크를 전자메일을 통해 보내기 가능
- 16개의 오토샘플러(옵션)는 각각 크기가 다른 샘플을 혼합하여 사용 가능
- 샘플의 크기와 모양에 따라 자동으로 배율을 선택 가능. 스캔된 샘플은 이미 진행중인 스캔과정을 취소시키지 않고 수정 가능
[기술데이터]
X-선 광원 | 20 – 100 kV 10 W < 5 μm 스팟 크기 4W |
X-선 검출기 | 액티브 픽셀 CMOS 평면 패널 3 MP (1944 x 1536) 75 μm 픽셀 크기 |
개체크기 | 직경 96mm 높이 120mm |
샘플 체인저 (선택 사항) | 직경 50mm까지 16개 시료 직경 96mm까지 8개 시료 외부 액세스 |
규격 | W 1040 mm x D 665 mm x H 400 mm 무게 170 kg |
옵션 액세서리 | 미세위치조정, 냉각, 가열, 압축/인장 |
전원 공급 장치 | 100-240V AC, 50-60Hz, 최대 3A 비 표면으로부터 10cm 떨어져 있을 때 1 µSv/h 미만 |
사양 | SKYSCAN 1275 |
외부 치수(w x d x h, mm) | 1040 x 665 x 400 |
중량(옵션 전자 장치 제외) | 170kg |
광원 | 20-100 kV |
미세검출능력 | 3 Mp 플랫 패널 |
최대 샘플 크기(직경, 높이) | 96mm, 120mm |
최소 해상도(3D 화소, 공간) | < 4 μm, <8 μm |
측정, 재구성 및 분석 소프트웨어 | 포함 |
[제품정보]
매우 빠르고 사용하기 쉬우면서도, 이미지 품질에 대한 어떤 타협도 허용하지 않습니다. 새롭게 출시된 Bruker SKYSCAN 1275는 연구 및 산업시장에서 훌륭한 조합을 제공합니다.
SKYSCAN 1275는 X선 광원 및 효율적인 평면 검출기에 최신기술을 적용하여, 매우 빠른 스캐닝이 가능하도록 특별히 설계되었습니다. X선 광원과 검출기 사이의 거리를 줄이고, 카메라 판독 값을 매우 빠르게 하면서도 화질을 떨어뜨리지 않기 때문에 스캔시간을 수 분 단위로 줄일 수 있습니다. 그래픽 카드로 가속화된 3차원 재구성 능력은 성능과 속도 면에서 추가적인 혜택을 제공합니다.
볼륨 렌더링에 의해 결과를 빠르게 시각화 하면, 샘플 내부의 미세구조를 가상으로 이미징이 가능하기 때문에 샘플 내외부의 가상절단 또는 가상현실 비행을 통해 샘플의 모든 내부특성을 확인할 수 있습니다. 품질관리 또는 생산공정 모니터링과 같은 연구 및 산업분야에서, 빠르면서도 고품질의 결과를 얻는 것이 매우 중요합니다. 또한 SKYSCAN 1275는 매우 높은 수준의 자동화 기능을 제공합니다. 시스템 전면의 버튼을 누르기만 해도 빠른 스캐닝을 위한 자동 시퀀스가 시작되고, 다음 샘플을 스캔하는 중에 이전에 스캔한 샘플의 3차원 재구성 및 볼륨 렌더링을 동시에 수행합니다.
[특징]
- 일련의 버튼 동작 만으로도 스캐닝, 재구성 및 볼륨 렌더링을 모두 수행
- 20-100kV의 X선 출력과 작은 스폿 사이즈, 그리고 다중 필터옵션을 통해 특정 어플리케이션에 대한 최적의 스캔조건 선택 가능
- 최대직경 96mm, 최대길이 100mm의 샘플을 스캐닝 할 수 있기 때문에 산업부품 및 어셈블리를 포함한 대형 샘플에도 사용 가능
- 왜곡 없는 3Mp의 능동형 평면검출기, 긴 수명과 재현성, 품질 및 정확성을 보장하기 위해 광섬유판을 사용
- 최단 스캔시간 80초
- 3차원 재구성은 기존의 CPU 기반 재구성과 비교하여 5~10배 빠른 속도로 모든 이미지형식 지원 가능
- 2D/3D 이미지 분석 및 대용량 스캔 결과의 표면/볼륨 렌더링, 모바일 데이터 내보내기 및 볼륨 렌더링을 통한 사실적 3차원 시각화 이미지 제작용 소프트웨어 패키지 기본 제공
- 미세위치조정 스테이지 및 인장/압축 스테이지, 그리고 냉각 및 가열시험 스테이지옵션 제공
- 스캔 후 결과에 대한 링크를 전자메일을 통해 보내기 가능
- 16개의 오토샘플러(옵션)는 각각 크기가 다른 샘플을 혼합하여 사용 가능
- 샘플의 크기와 모양에 따라 자동으로 배율을 선택 가능. 스캔된 샘플은 이미 진행중인 스캔과정을 취소시키지 않고 수정 가능
[기술데이터]
X-선 광원 | 20 – 100 kV 10 W < 5 μm 스팟 크기 4W |
X-선 검출기 | 액티브 픽셀 CMOS 평면 패널 3 MP (1944 x 1536) 75 μm 픽셀 크기 |
개체크기 | 직경 96mm 높이 120mm |
샘플 체인저 (선택 사항) | 직경 50mm까지 16개 시료 직경 96mm까지 8개 시료 외부 액세스 |
규격 | W 1040 mm x D 665 mm x H 400 mm 무게 170 kg |
옵션 액세서리 | 미세위치조정, 냉각, 가열, 압축/인장 |
전원 공급 장치 | 100-240V AC, 50-60Hz, 최대 3A 비 표면으로부터 10cm 떨어져 있을 때 1 µSv/h 미만 |
사양 | SKYSCAN 1275 |
외부 치수(w x d x h, mm) | 1040 x 665 x 400 |
중량(옵션 전자 장치 제외) | 170kg |
광원 | 20-100 kV |
미세검출능력 | 3 Mp 플랫 패널 |
최대 샘플 크기(직경, 높이) | 96mm, 120mm |
최소 해상도(3D 화소, 공간) | < 4 μm, <8 μm |
측정, 재구성 및 분석 소프트웨어 | 포함 |